首頁 > 應用案例> 微納米光學
MVI散射式掃描近場光學顯微鏡
NX10 高精度原子力顯微鏡
D500 高精度臺階儀
Profilm 3D光學輪廓儀
Zeta20 多模式三維光學輪廓儀
AFM SNOM/Nano IR,基于AFM高精度場強表征
亞納米形貌、電學、力學性質綜合表征
臺階高度測試、2D應力測試(可擴展3Dmapping型號)
器件輪廓測試、膜厚測試
器件寬粗糙度測試、表面輪廓形貌表征、應力應變測試