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場發射掃描電子顯微鏡
- > 品牌：HITACHI
- > 可承接樣品：薄膜,纖維等
- > 簡介：高放大倍數80萬倍，可以分別手機和分離單純二次電子，混合二次電子及背散射電子的信號，在加速電壓為15kv時，高分辨率能達到1nm (視樣品而定）,在1kv的低加速電壓，不適用減速功能，可以達到2.0n...
原子力顯微鏡
- > 品牌：Park System
- > 可承接樣品：半導體硅片,刻蝕掩膜,磁介質,CD/DVD,生物材料,光學材料和其他樣品
- > 簡介：使用自動化的原子力顯微鏡和掃描隧道顯微鏡技術，可用來測量直徑可達200mm的半導體硅片，刻蝕掩膜，磁介質，CD/DVD，生物材料，光學材料和其他樣品的表面特性。
Nano Indenter G200
- > 品牌：KLA
- > 可承接樣品：半導體器件, 薄膜 ,硬質涂層, DLC薄膜 , 復合材料, 光纖, 聚合物材料 , 金屬材料, 陶瓷材料 , 無鉛焊料 , 生物材料, 生物及仿生組織
- > 簡介：主要功能： 納米/顯微尺度的儀器化壓入和劃入，主要用于測試小塊或薄膜樣品的彈性模量和壓入硬度、薄膜臨界附著力和摩擦系數等。具有連續剛度測試模式、原位壓痕形貌掃描、剛度掃描和快速壓入測試等功能。 主要特...
納米拉伸測試儀
- > 品牌：KLA
- > 可承接樣品：纖維和生物材料
- > 簡介：各種纖維和生物材料的動態研究, 聚合物的拉伸和壓縮性能, 纖維和生物材料的屈服強度, 大載荷: 500mN載荷分辨率: 50nN 位移分辨率: <0.1nm。
臺階儀
- > 品牌：KLA
- > 可承接樣品：薄膜，纖維，金屬等
- > 簡介：大掃描長度≥55mm， 測試所允許的大樣品厚度≥50mm， 垂直方向的掃描范圍≥1000μm， 測試高度方向的重復性≤0.4nm（1μm的標準臺階）， 測試垂直分辨率≤0.1nm。主要用于薄膜材料厚度...
鋰電池測試
- > 品牌：SNPC
- > 可承接樣品：鋰電池，電池材料等
- > 簡介：進行電池安全性能和電學性能測試，提供高端材料分析測試,并向社會出具具有證明作用的數據和結果。 材料分析：微區形貌，成分分析，安全測試：低壓，高溫，短路，撞擊 ，擠壓，針刺，跌落，溫度循環，過充電，過放...
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