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    In-Situ原位測試

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        1. D系列臺階儀
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        1. 單點厚度測量
        2. 微米(顯微)級光斑尺度厚度測量
        3. 自動厚度測量系統
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        1. 表面等離子共振顯微鏡
        2. 表面等離子共振儀
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        1. 納米拉伸儀
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        1. 原位TEM四自由度納米操縱樣品桿
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        1. 原位拉伸臺
        2. In-SEM納米操作機
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        1. 小型研發臺
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        1. 探針及配件
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        1. In-SEM原子力顯微鏡
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        1. In-SEM納米壓痕
        2. In-SEM 納米操作機
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        1. 原位芯片及Holder
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        1. 電鏡樣品清洗機
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        1. 被動隔震臺
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        2. 鑲嵌
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        1. 干燥箱
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        1. AFM探針
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        3. TEM耗材
        4. SEM耗材
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        1. 光柵模板
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        4. 納米壓印膠
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